embedded world 2013: Modellbasiertes Testen variantenreicher Systeme

Meldung vom Mo., 11. Februar 2013

Fraunhofer FOKUS zeigt auf der embedded world, die vom 26.-28.02.2013 in Nürnberg stattfindet, wie die Qualitätssicherung variantenreicher Systeme mithilfe von modellbasierten Testmethoden effizienter und qualitativ hochwertiger durchgeführt werden kann.

Berlin, 11. Februar 2013 – Variantenreiche Systeme spielen heute eine immer größere Rolle in der industriellen Produktion. So können viele Produkte speziell nach Kundenwünschen gefertigt werden. Ein einfaches Beispiel ist die Konfiguration von Neuwagen: Egal ob sportlich oder sparsam, mit oder ohne Klimaanlage - das Produkt wird in der Fertigung speziell an die Wünsche der Kunden angepasst.

Damit später jedoch auch alle Systeme im Fahrzeug perfekt zusammenspielen, ist eine umfangreiche Testmethodik nötig. Die Forscher von Fraunhofer FOKUS nutzen dafür modellbasierte Testmethoden, die auf sogenannten Feature- und Verhaltensmodellen basieren. In den Feature-Modellen werden die einzelnen Produktvarianten beschrieben - zum Beispiel ein Fahrzeug mit Sportmotor und Klimaanlage. Hinzu kommen Verhaltensmodelle für alle Produktvarianten. Diese Modelle beschreiben genauer, welche Funktionen die Fahrzeuge der Produktfamilie besitzen.

Durch eine Verknüpfung beider Modelle ist es möglich, per Knopfdruck Testfälle für eine Fahrzeugvariante zu erzeugen, mit denen die Funktionen der einzelnen Systeme wie Motorsteuerung und Klimaanlage sowie deren Zusammenspiel getestet werden können. Außerdem bietet dieser Ansatz die Möglichkeit, Gemeinsamkeiten auszunutzen und gezielt nur die variantenspezifischen Eigenschaften zu prüfen. Dadurch wird der Testaufwand für die Produktfamilie signifikant reduziert.

Die Forscher von Fraunhofer FOKUS nutzen für die Verknüpfung von Modellen und die automatische, modellbasierte Erzeugung von Testfäl-len sowohl eigene als auch bereits auf dem Markt vorhandene Werkzeuge. Auf der embedded world 2013 in Halle 5, Stand 228, zeigen die Fraunhofer-Forscher an einem Exponat die modellbasierte Testfallgenerierung für variantenreiche Systeme.